XRF分析仪配有两种探测器类型中的一种：比例计数器或半导体探测器。在半导体器件中，硅漂移探测器-或称SDD-通常被视为是佳选择。

    两者各有利弊，以下是SDD的：

    在单次扫描中分析多个元素时，缩短分析时间。

    如果测量带有多个元素的样品，比例计数器可能需要使用二次滤波器以检测特定元素。而SDD可同时看到所有元素，因此所需扫描次数更少，总测量时间更短。

    维持结果准确性所需的调整频率较少。

    SDD不受大气条件影响，非常稳定，可提供更具可重复性的结果。

比例计数器是封装有惰性气体的圆柱体，该惰性气体在遭受X射线辐射时电离，受大气温度的影响，意味着仪器位于日间大气条件变化大的地方，必须进行多次重新确认或重新标准化才能确保结果的准确性。

    在样品复杂时，更容易识别样品的实际成分

    SDD给出元素之间的更好分辨率，尤其是在光谱中彼此靠近时。

    红色峰值显示SDD光谱，绿色区域显示使用比例计数器获得的同一样品的光谱。由图所知，SDD更易识别和测量此样品中铁、镍和锌的实际成分。

    更低的检出下限意味着SDD仪器涵盖更多的应用

    背景辐射始终存在于测量过程。SDD的背景水平通常要低得多，可检测PPM范围内的微量元素或污染物。对于比例计数器，背景变化可导致检测不到样品中所存在的元素。

    比例计数器与SDD：正面挑战

    用带比例计数器的Lab-X3500和带SDD的LAB-X5000仪器的进行实际测量，并比较性能。该测试旨在测量石灰石样品中的六种不同的成分：镁、铝、硅、钾、钙和铁。

    比例计数器完成六种元素的分析总共需要6.6分钟和4个激发条件。

    SDD仅需3分钟便可分析样品中的相同元素。

   LAB-X5000的速度是Lab-X3500的两倍，并且这还是分析较常见的情况。

    您应在何时考虑SDD仪器？

    比例计数器的分析仪是一些简单应用的良好解决方案。

    但是，如果您是大容量设施，并且XRF分析正在导致生产瓶颈，且您需要较低检测下限以识别杂质或微量元素或正在测量元素周期表中邻近的元素，需要更优分辨率以对结果更有信心，SDD仪器是您的不二选择。

    SDD还提供更优结果并有可能降低分析成本。某些应用，可在无需氦气吹扫的情况下测量轻元素，并且包含通过Wi-Fi自动将数据导出至ExTOPE Connect云的功能，从而实现灵活的数据管理。

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