集天瑞多年贵金属检测技术的经验，EDX600B使用而实用的正比计数盒探测器，以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件手动的移动平台和激光定位装置，使样品上测试点的选择更方便和准确；功能齐全的测试软件、友好的操作界面，使测试工作轻松完成。

EDX600B X荧光光谱仪性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测

内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

一次可同时分析24个元素

针对不同样品可自动切换准直器

智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

相互的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

EDX600B X荧光光谱仪技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）

测量对象：固体、液体、粉末

分析检出限：可达ppm

分析含量：一般为ppm－99.9％ 

温度适应范围：15℃－30℃

测量湿度：≤70％

测量时间：60－300秒

电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

标准配置

单样品腔

准直器（8个）自动切换装置（范围0.1mm－0.8mm）

正比计数盒探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

计算机及喷墨打印机

EDX600B X荧光光谱仪应用领域

，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测

金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定

主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业

尤其是及饰品的含量检测

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