天瑞仪器800A镀层测厚仪

       详细配置信息：
 

硬件：主机壹台，含下列主要部件：  
 

(1)   X光管                    (2) Si-PIN电制冷半导体探测器

(3) 信号检测电子电路     (4) 二维移动平台 

(5) 高清晰摄像头            (6) 高低压电源

(7)  开放式样品腔            (8）双激光定位装置

(9)  铅玻璃屏蔽罩
 

软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
 

技术指标：
 

1.1 分析元素范围：K-U

1.2 同时可分析多达5层镀层

1.3 分析厚度检出限zui高达0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 测量时间：5s-300s

1.6 计数率：0-8000cps

1.7 Z轴升降范围：0-140mm

1.8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
 

工作环境要求：
 

2.1 环境温度要求：15℃-30℃

2.2 环境相对湿度：<70%

2.3 工作电源：交流220±5V

2.4 周围不能有强电磁干扰。

        性能特点：

        满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求