X荧光镀层测厚仪系列

1.1 分析元素范围：K-U

1.2 同时可分析多达5层镀层

1.3 分析厚度检出限zui高达0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 测量时间：5s-300s

1.6 计数率：0-8000cps

1.7 Z轴升降范围：0-140mm

1.8 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

工作环境要求：

2.1 环境温度要求：15℃-30℃

2.2 环境相对湿度：<70%

2.3 工作电源：交流220±5V

2.4 周围不能有强电磁干扰。

X荧光镀层测厚仪

能量色散X荧光光谱仪EDX 1800B


技术参数

1.1 分析元素范围：S-U

1.2测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）

1.3元素测量范围：PPM级-99.99%

1.4 高压：5kV-50kV

1.5 管流：50μA-1000μA

1.6 能量分辨率：165±5eV

1.7 RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Brzui低达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。

1.8 测量时间：60s-300s

1.9 计数率：1300-8000cps

工作环境要求：

2.1 环境温度要求：15℃-30℃

2.2 环境相对湿度：<70%

2.3 工作电源：交流220±5V

2.4 周围不能有强电磁干扰。

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