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工业硅中杂质元素检测仪
产品名称:工业硅中杂质元素检测仪
产品型号:WDX200
品牌:江苏天瑞仪器股份有限公司
产品数量:
产品单价: 面议
日期:2023-09-12
工业硅中杂质元素检测仪的详细资料
工业硅中杂质元素检测仪

WDX200波长色散X荧光光谱仪用于工业硅中杂质元素的检测,从制样到出结果只需几分钟(粉碎、压片、测试),操作简单,对使用人员要求不高,检测速度远远优于化学分析方法,无需任何化学试剂。  

实验结论:用WDX200测试工业硅中:铁、铝、钙、磷、钛等杂质元素,无需化学融样,固体样压片直接检测,稳定性好,结果准确可靠。


仪器介绍
WDX-200小型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意十种元素。该仪器可广泛应用于水泥、钢铁、粉末冶金、煤炭、石油、高岭土、玻璃、耐火材料、环保等行业,是大中型企业质量控制的理想选择。


工业硅中杂质元素检测仪

性能特点
粉体样品或块样品快速,非破损分析。
采用多路高速MCA并行实时检测各元素谱峰,不仅便于调试仪器和故障诊断,而且有利于提高仪器稳定性。

技术指标
型号:WDX-200
恒温室温度控制精度:设定值±0.1℃。
分析元素种类:从Na到U的任意十种元素。
分析方法:经验系数法和理论α系数法。
交流220V供电设备:1KVA交流净化稳压电流。
高压电源:200W(50KV4mA)。
管压管流12小时稳定度:优于0.05%。
真空泵:两相~220V、2升。
工控微机:工控104微机。
分析精度:σn-1(24小时,百分比含量)≤0.05%。
单个样品测量时间:(含换样抽真空时间)≤3~5分钟。
X 射线管:Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射线管,Rh靶(Pd靶可选)。
探测器:流气正比探测器+封闭正比探测器,10路1024道独立脉冲高度分析器。
真空系统:独立泵站结构,易于维护。
测量室高真空度:低于5Pa。
流气系统:高精度流气密度稳定装置,压力稳定度达到±0.003KPa。
分析软件:备有经验系数法和理论α系数法两种定量分析方法,采用全谱检测技术,实现了各道谱线的即时跟踪和校正,从而大大提高了定量分析的重现性和长期稳定性,同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。完善的自诊断措施。内置了RS-232串行通讯协议,TCP/IP协议与DCS或QCS系统共享数据。

应用领域
建材(水泥、玻璃、陶瓷)
冶金(钢铁、有色金属)
石油(微量元素S、Pb等)
化工
地质采矿
商品检验
质量检验
人体微量元素的检验

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